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常用尼龙真空包装袋厚度测试方法介绍
时间:2019-04-23 19:37 作者:华良塑业 点击:

        尼龙真空包装袋具体的厚度测量方法有金相显微镜法、扫推电镜法、多光束干涉法、触计法、微量天平法、石英晶体振荡法、电阻法、电容法、偏振光解析法等等,下面就常用的三种方法进行一下简单介绍:

 

常用尼龙真空包装袋厚度测试方法介绍

 

       1、金相显微镜法
       金相显微镜法是将试样薄膜后,沿垂直于薄膜表面的方向切断,将有膜的一面与一块光洁表面的金属保护块,用胶粘剂粘合或用环氧树脂镶嵌,在薄膜的断面方向上按金相试样的制备方法,制成金相试祥。在金相显微镜下用测微计测量膜基界面到薄膜表面的距离,就是尼龙真空包装袋的厚度。金相显微镜的放大倍率应在500倍以上,膜厚小于1μ时误差较大,试样镶嵌时,应注意尽可能使薄膜的断面与膜层垂直,以降低测量误差。
 
       2、扫描电镜法
       扫描电镜法的试样制备方法,可以用金相显微镜法的制样方法,制成薄膜的断面金相试祥,也可用镀膜的试样,沿垂直于膜面的方向制成断口试样,用扫描电子显微镜观察测置尼龙真空包装袋的厚度,观察测量时,应注意视场的角度应垂直薄膜的断面。
 
       3、触针法
       触针法又称表面轮郭仪法。触针法测置时,需通过溶解一部分薄膜成者先遮蔽一部分基片再镀膜,使基片与膜层形成一个台阶,再用轮郭记录仪两量台阶的高度。此高度即为尼龙真空包装袋的厚度。
       影响触针法测量精度的因素有:仪器的记录误差;仪器垂直放人倍数选择太低,误差增大;触针测量力太大,会划伤薄膜,造成测量误差;触针的直径和尼龙真空包装袋表面的粗链度应配合选用,以降低测量误差,尼龙真空包装袋表面粗糙时,应选用大直径触针,一般要求记录的基体粗糙度,不应超过台阶高度的另外,台阶的质量、振动、尘土,想度的变化等也会彩响薄膜厚度的测量精度。
 
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